野崎 佑典 准教授 （情報工学部情報工学科）

情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会 DAシンポジウム2025　 優秀発表賞

低遅延軽量暗号LTLBCの故障利用解析に対する耐タンパ性評価

実装制約の厳しいデバイスで利用可能なセキュリティ技術として軽量暗号が注目されています。一方で、これらの暗号デバイスではサイドチャネル解析と呼ばれる実装攻撃への安全性評価が必須となっています。

本研究では、軽量暗号LTLBCを対象に意図的に演算誤りを注入することで秘密鍵を復元する故障利用解析手法を新たに提案し、その安全性（耐タンパ性）を定量的に評価しました。

これらの成果について、DAシンポジウム2025で発表したところ優秀発表賞を受賞しました。

※野崎准教授は、名古屋大学・岐阜大学が推進する T-Gex （世界的課題を解決する知の「開拓者」育成事業）のアソシエートとして採択され、グローバル課題の解決に向けた研究活動を展開しています。