トップページ/受賞 理工学部電気電子工学科の本多さんと堀田教授が外観検査アルゴリズムコンテストで優秀賞とレゾナンスバイオ賞

堀田教授(左)と本多さん 堀田教授(左)と本多さん
受賞者 本多 慶伍さん(理工学部電気電子工学科4年)、堀田 一弘教授(理工学部電気電子工学科)
受賞名 公益財団法人精密工学会
外観検査アルゴリズムコンテスト2018  優秀賞、レゾナンスバイオ賞(2件の受賞)
受賞日 2018年12月6日
受賞テーマ Log-Polar変換とCNNを用いた少ない学習画像から細胞画像の3D instance segmentation

外観検査アルゴリズムコンテストは、画像を用いた外観検査技術の発展を図る一環として実施されています。18回目となる今年は、3D画像から生きた細胞の抽出を行うアルゴリズムのコンテストが実施され、135件の応募の中から2位の成績を収め、優秀賞に選ばれました。また、レゾナンスバイオ研究の今後の発展に寄与することが期待され、レゾナンスバイオ賞にも選ばれました。

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